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通过 XPS 和红外光谱表征 MoOx/ZrO2 系统
Surface and Interface Analysis ( IF 1.6 ) Pub Date : 1994-07-01 , DOI: 10.1002/sia.740220186
D. Gazzoli , F. Prinetto , M. C. Campa , A. Cimino , G. Ghiotti , V. Indovina , M. Valigi
Surface and Interface Analysis ( IF 1.6 ) Pub Date : 1994-07-01 , DOI: 10.1002/sia.740220186
D. Gazzoli , F. Prinetto , M. C. Campa , A. Cimino , G. Ghiotti , V. Indovina , M. Valigi
MoO x /ZrO 2 样品(Mo含量,0.7至4.0个原子nm -2 )已经通过XPS和傅里叶变换红外(FTIR)光谱进行了研究。在 O 2 (773 K) 中加热后,XPS 显示存在 Mo VI 物种;而红外分析显示830-1012 cm -1 区域的谱带,由各种核的Mo VI 物种产生。在还原的早期阶段(H 2 在 500 K),XPS 和 IR 都显示出 Mo V 的形成。与先前的 ESR 结果一致,来自 Mo V 的 IR 和 XPS 波段的强度不会通过进一步增加减少程度至 803 K 发生明显变化
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更新日期:1994-07-01

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