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通过机器学习有效提高 PBE 函数计算固体带隙的准确性
Computational Materials Science ( IF 3.1 ) Pub Date : 2021-07-07 , DOI: 10.1016/j.commatsci.2021.110699
Zhongyu Wan 1, 2 , Quan-De Wang 1 , Dongchang Liu 3 , Jinhu Liang 4
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带隙是决定包括半导体和绝缘体在内的多种材料的电子、光电和其他应用的最重要参数之一。然而,准确预测这些材料的带隙一直是量子化学中的一个难点。许多研究试图通过使用局部密度近似 (LDA) 和广义梯度近似 (GGA) 的标准密度泛函理论 (DFT) 计算来提高预测带隙的准确性,众所周知,它们会严重低估带隙。随着实验和理论研究的材料数据库的快速发展,在此,我们通过将广泛使用的 Perdew-Burke-Ernzerh (PBE-GGA) 函数与机器学习方法相结合,开发了一种校正模型,以提高带隙的预测精度。校正模型引入了物理上有意义但计算上有效的描述符来拟合实验数据集,并建立了人工神经网络 (ANN) 模型以提高 DFT-PBE 函数计算结果的预测精度。新方法为高精度 G 下的带隙预测带来了高精度模型0 W 0级别而不增加 DFT-PBE 级别的计算成本。此外,与 DFT-PBE 和 G 0 W 0方法相比,预测带隙的误差分布更符合正态分布。带隙校正模型提供了一种从标准 DFT 计算中获得类 GW 质量结果的实用方法,对于执行 GW 计算变得不可行的半导体和绝缘体的准确高通量筛选应该很有价值。





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更新日期:2021-07-08
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