Abstract XPS and ISS data have been collected from pressed AgF and AgF2 powder samples obtained from AESAR. The samples were sputter-cleaned in vacuum for 10 min with 1 keV He+ to reduce the amounts of surface contaminants present. Negative shifts in XPS BEs and increased peak widths are observed with increasing silver oxidation state for the Ag 3d peaks according to the XPS data. This negative BE shift with increasing oxidation state is opposite to that expected based on simple charge-transfer arguments. Significant negative KE shifts between the Auger features are obtained from Ag metal, AgF, and AgF2 similar to those observed for Ag metal, Ag2O and AgO. The XPS F 1s and F 2s peaks indicate the presence of multiple chemical states of fluorine including fluoro-hydrocarbon and/or-alcohol-like species in addition to fluorides. As prepared AgF and AgF2 samples were found to have F Ag ratios of 0.60 and 1.75, respectively. Since the stoichiometries of AgF and AgF2 predict F Ag ratios of 1.00 and 2.00, respectively, the excess Ag is present in chemical forms other than the silver-halide. Both samples contain mixed chemical states of Ag0, Ag+ and Ag2+. The primary contaminants consist of O and C. Multiple chemical states of O are present on the outermost and near-surface regions of the as-prepared samples including atomically adsorbed oxygen, carbonates, absorbed water, hydroxyl groups and various oxygen-containing carbon compounds. The XPS C 1s peak shapes are quite complex with features due to the presence of several different carbon species including carbide, hydrocarbons, alcohols, carbonate, CHF and CFO(OH)-like species.

中文翻译：

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使用 XPS 和 ISS 对 AgF 和 AgF2 粉末的表面表征研究

摘要 XPS 和 ISS 数据是从 AESAR 获得的压制 AgF 和 AgF2 粉末样品中收集的。样品在真空中用 1 keV He+ 溅射清洁 10 分钟，以减少表面污染物的数量。根据 XPS 数据，随着银 3d 峰的银氧化态的增加，观察到 XPS BE 的负移和增加的峰宽。这种随着氧化态增加的负 BE 偏移与基于简单电荷转移参数的预期相反。从 Ag 金属、AgF 和 AgF2 获得俄歇特征之间的显着负 KE 偏移，类似于对 Ag 金属、Ag2O 和 AgO 观察到的那些。XPS F 1s 和 F 2s 峰表明氟的多种化学状态的存在，包括氟代烃和/或类醇类物质以及氟化物。发现制备的 AgF 和 AgF2 样品的 F Ag 比率分别为 0.60 和 1.75。由于 AgF 和 AgF2 的化学计量预测 F Ag 比率分别为 1.00 和 2.00，因此过量的 Ag 以卤化银以外的化学形式存在。两个样品都包含 Ag0、Ag+ 和 Ag2+ 的混合化学状态。主要污染物由 O 和 C 组成。 O 的多种化学状态存在于所制备样品的最外层和近表面区域，包括原子吸附氧、碳酸盐、吸收水、羟基和各种含氧碳化合物。由于存在多种不同的碳物质，包括碳化物、碳氢化合物、醇类、碳酸盐、CHF 和 CFO(OH) 类物质，因此 XPS C 1s 峰形具有非常复杂的特征。分别为 60 和 1.75。由于 AgF 和 AgF2 的化学计量预测 F Ag 比率分别为 1.00 和 2.00，因此过量的 Ag 以卤化银以外的化学形式存在。两个样品都包含 Ag0、Ag+ 和 Ag2+ 的混合化学状态。主要污染物由 O 和 C 组成。 O 的多种化学状态存在于所制备样品的最外层和近表面区域，包括原子吸附氧、碳酸盐、吸收水、羟基和各种含氧碳化合物。由于存在多种不同的碳物质，包括碳化物、碳氢化合物、醇类、碳酸盐、CHF 和 CFO(OH) 类物质，因此 XPS C 1s 峰形具有非常复杂的特征。分别为 60 和 1.75。由于 AgF 和 AgF2 的化学计量预测 F Ag 比率分别为 1.00 和 2.00，因此过量的 Ag 以卤化银以外的化学形式存在。两个样品都包含 Ag0、Ag+ 和 Ag2+ 的混合化学状态。主要污染物由 O 和 C 组成。 O 的多种化学状态存在于所制备样品的最外层和近表面区域，包括原子吸附氧、碳酸盐、吸收水、羟基和各种含氧碳化合物。由于存在多种不同的碳物质，包括碳化物、碳氢化合物、醇类、碳酸盐、CHF 和 CFO(OH) 类物质，因此 XPS C 1s 峰形具有非常复杂的特征。过量的银以卤化银以外的化学形式存在。两个样品都包含 Ag0、Ag+ 和 Ag2+ 的混合化学状态。主要污染物由 O 和 C 组成。 O 的多种化学状态存在于所制备样品的最外层和近表面区域，包括原子吸附氧、碳酸盐、吸收水、羟基和各种含氧碳化合物。由于存在多种不同的碳物质，包括碳化物、碳氢化合物、醇类、碳酸盐、CHF 和 CFO(OH) 类物质，因此 XPS C 1s 峰形具有非常复杂的特征。过量的银以卤化银以外的化学形式存在。两个样品都包含 Ag0、Ag+ 和 Ag2+ 的混合化学状态。主要污染物由 O 和 C 组成。 O 的多种化学状态存在于所制备样品的最外层和近表面区域，包括原子吸附氧、碳酸盐、吸收水、羟基和各种含氧碳化合物。由于存在多种不同的碳物质，包括碳化物、碳氢化合物、醇类、碳酸盐、CHF 和 CFO(OH) 类物质，因此 XPS C 1s 峰形具有非常复杂的特征。O 的多种化学状态存在于所制备样品的最外层和近表面区域，包括原子吸附氧、碳酸盐、吸附水、羟基和各种含氧碳化合物。由于存在多种不同的碳物质，包括碳化物、碳氢化合物、醇类、碳酸盐、CHF 和 CFO(OH) 类物质，因此 XPS C 1s 峰形具有非常复杂的特征。O 的多种化学状态存在于所制备样品的最外层和近表面区域，包括原子吸附氧、碳酸盐、吸附水、羟基和各种含氧碳化合物。由于存在多种不同的碳物质，包括碳化物、碳氢化合物、醇类、碳酸盐、CHF 和 CFO(OH) 类物质，因此 XPS C 1s 峰形具有非常复杂的特征。