当前位置：
X-MOL 学术
›
Appl. Surf. Sci.
›
论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your
feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
氧化物材料中Fe2+和Fe3+离子的XPS光谱分析
Applied Surface Science ( IF 6.3 ) Pub Date : 2008-02-01 , DOI: 10.1016/j.apsusc.2007.09.063
Toru Yamashita , Peter Hayes
Applied Surface Science ( IF 6.3 ) Pub Date : 2008-02-01 , DOI: 10.1016/j.apsusc.2007.09.063
Toru Yamashita , Peter Hayes
铁氧化物 Fe0.94O、Fe3O4、Fe2O3 和 Fe2SiO4 的样品在受控气体气氛中通过高温平衡制备。样品在真空中断裂并测量断裂表面的高分辨率 XPS 光谱。Fe2+ 和Fe3+ 的Fe 3p 峰位置和峰形参数分别来自2FeO·SiO2 和Fe2O3 标准样品的Fe 3p XPS 光谱。使用这些参数，分析了 Fe3O4 和 Fe1-yO 的 Fe 3p 峰。结果表明高分辨率 XPS 技术可用于确定金属氧化物中的 Fe2+/Fe3+ 比率。该技术具有应用于其他过渡金属氧化物系统的潜力。
"点击查看英文标题和摘要"
更新日期：2008-02-01
"点击查看英文标题和摘要"
京公网安备 11010802027423号