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具有不同电子传输材料的有机发光二极管的高电流应力
Microelectronics Reliability ( IF 1.6 ) Pub Date : 2017-04-01 , DOI: 10.1016/j.microrel.2017.03.002
L. Liu , S. Li , Y.M. Zhou , L.Y. Liu , X.A. Cao
Microelectronics Reliability ( IF 1.6 ) Pub Date : 2017-04-01 , DOI: 10.1016/j.microrel.2017.03.002
L. Liu , S. Li , Y.M. Zhou , L.Y. Liu , X.A. Cao
摘要 我们对仅电子传输材料 (ETM) 不同的纯电子器件 (EOD) 和有机发光二极管 (OLED) 进行了加速可靠性测试。EOD 在 50 mA/cm2 下的高电流应力表明，就固有材料稳定性而言，Bphen ~ Alq3 > TPBi > TAZ。此外，最低未占分子轨道 (LUMO) 能级和电子迁移率已被确定为影响 OLED 降解率的另外两个关键材料因素。TAZ 的电子迁移率低，LUMO 能级与阴极的费米能级不一致，材料稳定性差，导致具有 TAZ 电子传输层 (ETL) 的器件可靠性极差。相比之下，具有 Bphen ETL 的 OLED 表现出更稳定的操作和 76 倍长的亮度寿命。
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更新日期：2017-04-01
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