摘要 研究了在疲劳期间施加和不施加载荷保持（停留）的近α钛合金 Ti6242Si 中出现在高度错误取向的软/硬晶粒对中的位错结构。软晶粒中的位错堆积导致相邻硬晶粒中的内应力可以通过局部 Frank-Read 源处的位错倍增来松弛，该过程通过在负载保持期间提供松弛时间来辅助。建议该过程的速率由< c + a > 锥体交叉滑移和< a > 基底连接形成控制。观察到高密度的〈a〉棱柱堆积，在两个棱柱面上双滑移，以及在高度错误取向的晶粒对的软晶粒中第三棱柱面上的边缘位错，增加了堆积应力。发现这种堆积产生的应力集中在驻留疲劳（单端堆积）中比在 LCF（双端）中更高。分析模型表明，这种堆积在驻留疲劳中在硬晶粒上产生的最大法向应力接近于基础，≈ 2。5°到（0002）。这为 Ti 合金中驻留疲劳裂纹形核合理化的主要假设提供了支持，该假设源自 Stroh 堆积模型，并详细阐述了由减载引起并导致基底刻面的潜在位错现象。



"点击查看英文标题和摘要"