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使用 FIB-SEM 断层扫描成像的 3D 涂层结构的基于镶嵌的随机建模
Computational Materials Science ( IF 3.1 ) Pub Date : 2021-06-06 , DOI: 10.1016/j.commatsci.2021.110611 Philip Townsend , Torben Nilsson Pingel , Niklas Lorén , Tobias Gebäck , Eva Olsson , Aila Särkkä , Magnus Röding
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更新日期:2021-06-07
Computational Materials Science ( IF 3.1 ) Pub Date : 2021-06-06 , DOI: 10.1016/j.commatsci.2021.110611 Philip Townsend , Torben Nilsson Pingel , Niklas Lorén , Tobias Gebäck , Eva Olsson , Aila Särkkä , Magnus Röding
为了便于印刷,通常将涂料涂在用于包装的纸板上,以提供良好的涂装表面。为了优化涂层的性能,了解材料的微观结构与其传质性能之间的关系非常重要。在这项工作中,使用组合聚焦离子束和扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 断层扫描数据对三个纸板涂层样品进行成像,这些数据经过适当分割以表征内部微观结构。这些图像用于提供参数化、基于曲面细分的随机三维模型,旨在模拟涂层中可见的颗粒的不规则几何形状。该模型的参数是根据 FIB-SEM 图像数据估计的,我们在几何测量和质量传输特性方面证明了真实和虚拟结构之间的良好一致性。该模型的开发有助于探索结构与其特性之间的关系。
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