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通过透射电子显微镜 (TEM) 对四氧化钌染色的聚合物纳米粒子的纳米粒子尺寸分布进行量化
Journal of Colloid and Interface Science ( IF 9.4 ) Pub Date : 2021-04-20 , DOI: 10.1016/j.jcis.2021.04.081
Brian K Wilson 1 , Robert K Prud'homme 1
Affiliation  

假设

动态光散射 (DLS) 生成的聚合物稳定纳米粒子的粒度分布 (PSD) 取决于用于生成适合测量自相关函数的反演解的优化参数。DLS PSD 平均值和多分散性的准确性可以通过将分析的透射电子显微镜 (TEM) 图像与 DLS 结果进行比较来确定,如果 TEM 测量的尺寸可以针对影响粒子流体动力学但坍塌的水合聚合物电晕的厚度进行校正, TEM 图像中的干燥壳。

实验

纳米颗粒是通过 Flash NanoPrecipitation 与聚乙二醇 (PEG) 或醋酸琥珀酸羟丙基甲基纤维素 (HPMCAS) 稳定聚合物制备的。溶剂化的纳米颗粒尺寸分布通过水介质中的 DLS 测量。将相同的纳米颗粒分散体冻干到 TEM 网格上并用四氧化钌 (RuO 4 ) 蒸气染色以提高电子对比度。通过在染色的 TEM 图像中测量最少 300 个粒径来生成干燥的粒径分布。

发现

使用我们在 TEM 测量中染色软物质纳米粒子的协议,我们定量分析了 DLS 和 TEM 生成的 PSD 之间的相关性。由于高真空 TEM 环境,每个稳定剂的水合聚合物电晕厚度的平均直径不一致,PEG 为 21.4 nm,HPMCAS 为 51.2 nm。虽然每种技术的校正平均直径一致在 10% 以内,但与 TEM 测量相比,DLS 始终高估 PSD 的标准偏差 100%。





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更新日期:2021-04-20
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