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优化SEM样品制备方法以精确分析碳纳米管/纳米簇杂化物
Journal of Microscopy ( IF 1.5 ) Pub Date : 2021-04-02 , DOI: 10.1111/jmi.13008
Nailin Yue 1 , Li Wang 2 , Xingquan He 2 , Hongyan Liu 1 , Wei Zhang 1, 3
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与能量色散X射线光谱仪(EDS)集成的扫描电子显微镜(SEM)被科学地用于表征粉末样品的形态,化学成分和元素分布。在可访问的分析仪器上,样本制备方法直接影响观察和分析的质量和准确性。本文采用三种制备方法表征了碳纳米管(CNTs)基材料,并讨论了它们的强度和局限性。因此,通过比较获得的三个测量值和导出的样本信息,建立了表征策略。最后,我们提出要获取纳米级重纳米簇接枝碳纳米管的背向散射电子(BSE)图像,通常用于功能广泛的应用,例如能量转换和存储。我们提出的最佳方法尤其适用于澄清具有小粒径和低原子序数的粉末样品,这突显了SEM背散射电子图像的相关贡献。



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更新日期:2021-05-22
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