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聚（二甲基硅氧烷）（PDMS）XPS参考核心能级和能量损失谱
Surface Science Spectra ( IF 1.6 ) Pub Date : 2005-12-01 , DOI: 10.1116/11.20050908
Pierre Louette 1 , Frederic Bodino 1 , Jean-Jacques Pireaux 1
Surface Science Spectra ( IF 1.6 ) Pub Date : 2005-12-01 , DOI: 10.1116/11.20050908
Pierre Louette 1 , Frederic Bodino 1 , Jean-Jacques Pireaux 1
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给出了在标准实验条件下用SSX-100光谱仪记录的聚二甲基硅氧烷的XPS测量结果：分析了扫描扫描，高分辨率核能级谱以及碳，氧和硅峰的能量损失区域。这是一项合同工作的一部分，旨在在大约40种不同聚合物的相同条件下记录光谱。
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更新日期：2005-12-01
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京公网安备 11010802027423号