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XPS表征Ni2O3·6H2O
Surface Science Spectra Pub Date : 1994-07-01 , DOI: 10.1116/1.1247755
A. N. Mansour 1 , C. A. Melendres 2
Affiliation  

我们报告了水合氧化镍(Ni2O3⋅6H2O)的X射线光发射光谱(XPS)。XPS光谱是使用Physical Electronics Model 5400 X射线光电子能谱仪使用未单色的MgKαx射线在两次通过能量设置下测量的,分别对应于分析仪的能量分辨率为1.34和0.54 eV。我们介绍了在1.34 eV的分析仪能量分辨率下测得的调查频谱(结合能范围为0–1100 eV)。以0.54 eV的分析仪能量分辨率测量了C,O和Ni光发射谱线,价带区域以及Ni LVV Auger谱线的多重性。Ni2O3·6H2O样品可从Alfa商购获得。我们的XPS结果表明,近表面区域由很大比例的Ni(OH)2组成。此外,样品中还含有少量的Na和Cl。



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更新日期:1994-07-01
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