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XPS分析二维材料二硫化钼
Surface Science Spectra ( IF 1.6 ) Pub Date : 2014-12-01 , DOI: 10.1116/11.20140401
D. Ganta 1 , S. Sinha 1 , Richard T. Haasch 1
Surface Science Spectra ( IF 1.6 ) Pub Date : 2014-12-01 , DOI: 10.1116/11.20140401
D. Ganta 1 , S. Sinha 1 , Richard T. Haasch 1
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使用高分辨率X射线光电子能谱（XPS）分析了从SPI供应商购买的二维材料二硫化钼（MoS2）。从MoS2块状单晶中机械剥落薄片以进行研究。使用单色AlKα辐射在0.83401 nm处获得的MoS2的XPS光谱包括测量扫描，O 1s，Mo 3p，C 1s，Mo 3d，S 2s，S 2p，Mo 4s，Mo 4p，S 3s的高分辨率光谱，和价带。在Mo 3d / S 2s，S 2p和Mo 4s / Mo 4p / S 3s /价带区域附近收集了扩展的能量范围，从而可以拟合表面等离子体激元特征并确定Tougaard散射截面参数。定量分析表明MoS1.9的表面组成。
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更新日期：2014-12-01
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