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通过XMLD光谱研究CoO-NiO双层的反铁磁性
Journal of Physics D: Applied Physics ( IF 3.1 ) Pub Date : 2021-02-19 , DOI: 10.1088/1361-6463/abe15c
Bibhuti Bhusan Jena 1 , Suman Mandal 2 , Krishnakumar S R Menon 1
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更新日期：2021-02-19
Journal of Physics D: Applied Physics ( IF 3.1 ) Pub Date : 2021-02-19 , DOI: 10.1088/1361-6463/abe15c
Bibhuti Bhusan Jena 1 , Suman Mandal 2 , Krishnakumar S R Menon 1
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使用X射线磁线性二向色性（XMLD）光谱技术研究了Cog-NiO外延双层系统在MgO（001）衬底上生长的情况，该系统具有变化的CoO覆盖层厚度。在两个域模型中使用各向异性XMLD公式对Ni L 2边缘XMLD光谱进行的分析显示，Ni矩会随着CoO厚度的增加而发生自旋重取向。这种自旋重新取向归因于两个NiO薄膜界面处的竞争性磁相互作用，这表明存在分离平面内和平面外NiO域的尖锐水平畴壁。我们的研究还证明了一种可能的方法，该方法使用基于模型的方法以无创方式研究沿着同一化学结构内厚度方向的自旋结构。
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