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小角度X射线散射可作为共价有机框架结构表征的多方面工具
Journal of Applied Crystallography ( IF 5.2 ) Pub Date : 2020-09-29 , DOI: 10.1107/s1600576720011553 Renata Avena Maia , Leonardo Simões de Abreu Carneiro , Jhonny Mauricio Cerón Cifuentes , Camilla Djenne Buarque , Pierre Mothé Esteves , Ana Maria Percebom
Journal of Applied Crystallography ( IF 5.2 ) Pub Date : 2020-09-29 , DOI: 10.1107/s1600576720011553 Renata Avena Maia , Leonardo Simões de Abreu Carneiro , Jhonny Mauricio Cerón Cifuentes , Camilla Djenne Buarque , Pierre Mothé Esteves , Ana Maria Percebom
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小角X射线散射(SAXS)是一种精确的无损方法,需要最少的样品准备,并用于研究孔隙率,形态和层次结构。沸石和二氧化硅是SAXS广泛研究的多孔材料。但是,对共价有机框架(COF)的研究仍然很少。在本研究中,使用SAXS来研究中孔和微孔COF,从而提供有关其纳米结构织构特性的深入信息。当与其他表征技术(例如粉末X射线衍射和N 2)结合使用时,SAXS特别有用吸附等温线,正在成为进一步表征COF的有效工具。对于微孔COF,SAXS主要用于获得表面粗糙度的定量值,该数值是分形参数的函数,在所有情况下都表明了大型散射物体的表面分形,即“颗粒”。介孔COF研究允许根据其结构峰来阐明其六边形结构。然而,主要结果在于孔和颗粒之间的区别,它们被Beaucage模型描述为分层结构,并根据它们的分形性进行评估。这些COF接受后功能化处理后,通常会显示出具有质量分形特征的孔和具有表面分形特征的晶粒,这可能是由于官能化剂向孔中扩散性差所致。此外,基于小角度散射前提,设想了对多孔散射物体的建议聚集描述,并通过高分辨率透射电子显微镜对微孔COF进行了确认。
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更新日期:2020-10-05

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