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通过表面化学改性提高氢倍半硅氧烷 (HSQ) 在用于电子束光刻的各种基材上的附着力
Microelectronic Engineering ( IF 2.6 ) Pub Date : 2014-10-01 , DOI: 10.1016/j.mee.2014.05.027
Zhiqiang Zhang , Huigao Duan , Yihui Wu , Wuping Zhou , Cong Liu , Yuguo Tang , Haiwen Li

氢倍半硅氧烷 (HSQ) 是一种用于电子束光刻和亚 5 纳米半间距图案的出色负性抗蚀剂,可以使用高对比度显影工艺实现。然而,HSQ在不同类型基板上的附着质量各不相同,从而限制了HSQ在蚀刻掩模或各种基板上的金属剥离工艺中的作用。在这项研究中,我们提出了几种化学改性方法来改善 HSQ 在 Si、Cr、Cu、Mo、Au 和氧化铟锡 (ITO) 基板上的粘附抗蚀剂。通过使用(3-巯基丙基)三甲氧基硅烷(MPTMS)和聚(二烯丙基二甲基铵)氯化物(PDDA)改性,HSQ 在 Au 基板上的粘附模式得到显着改善。(3-氨基丙基)三乙氧基硅烷 (APTES) 增强了 HSQ 在 Mo 基材上的附着力。APTES 和 PDDA 提高了 HSQ 对 Si、Cr、铜和 ITO。这些基板上改进的粘合剂 HSQ 纳米图案可能有利于各种纳米光子和纳米电子器件的制造。



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更新日期:2014-10-01
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