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混合相 β-Ga2O3 和 SnO2 金属-半导体-金属光电探测器,探测范围从 293 nm 扩展到 330 nm
Journal of Alloys and Compounds ( IF 5.8 ) Pub Date : 2021-02-01 , DOI: 10.1016/j.jallcom.2020.157080
Ming-Ming Fan , Ling Cao , Kang-Li Xu , Xiu-Yan Li

摘要 在本文中,我们通过化学气相沉积在 c 面蓝宝石 (c-Al2O3) 上展示了具有主要 (2¯ 01)-β-Ga2O3 和 (200)-SnO2 取向的 β-Ga2O3 和 SnO2 混合相薄膜。管式炉。由于 (2¯ 01)-β-Ga2O3/c-Al2O3 (~3%) 和 (200)-SnO2/c-Al2O3 (~0.6%) 的小失配,透射电子显微镜 (TEM) 显示它们在基板上同时生长)。因此,我们还通过控制前驱体中的 Sn 和 Ga 比例,成功地证明了优选取向的 (2¯01)-β-Ga2O3 和 (200)-SnO2 混合相薄膜。在 40 V 时,金属-半导体-金属 (MSM) 光电探测器的光电特性受到混合相薄膜中更多 SnO2 含量的调节,包括从 11 pA 到 4 nA 的暗电流,从 240 nm 的 UVC 峰值响应( 2 mA/W) 至 260 nm (1.15 A/W),274 nm 至 297 nm 的可调截止波长,以及 293 nm 至 330 nm 的长波长检测范围扩展。我们的器件显示出类似 Ga2O3 的光响应特性,而不是类似 SnO2 的特性,与具有不可调检测范围的纯和混合相 Ga2O3 基光电探测器的部分性能相比,具有更低的暗电流、可比的响应度和探测率以及更快的响应时间,其中有望在掺杂或合金化过程中扩展其他 Ga2O3 基混合相材料的更广泛应用,并为实现具有可控检测范围的高性能 Ga2O3 基光电探测器铺平了新的可行途径。



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更新日期:2021-02-01
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