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铁磁SrRuO3薄膜中手性自旋结构的检测。
ACS Applied Materials & Interfaces ( IF 8.3 ) Pub Date : 2020-07-22 , DOI: 10.1021/acsami.0c10545
Hai Huang 1 , Sang-Jun Lee 1 , Bongju Kim 2, 3, 4 , Byungmin Sohn 2, 3 , Changyoung Kim 2, 3 , Chi-Chang Kao 5 , Jun-Sik Lee 1
ACS Applied Materials & Interfaces ( IF 8.3 ) Pub Date : 2020-07-22 , DOI: 10.1021/acsami.0c10545
Hai Huang 1 , Sang-Jun Lee 1 , Bongju Kim 2, 3, 4 , Byungmin Sohn 2, 3 , Changyoung Kim 2, 3 , Chi-Chang Kao 5 , Jun-Sik Lee 1
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SrRuO 3（SRO）薄膜及其异质结构由于最近表现出的引人入胜的特性（如拓扑霍尔效应和天窗离子）而备受关注。对自旋结构的研究对于理解这些SRO特性至关重要。在这里，我们在氧K边缘进行共振软X射线散射（RSXS），以研究在单晶SrTiO 3上外延生长的四单元SRO膜的自旋构型。磁场（约0.4特斯拉）下的RSXS信号清楚地显示了镜面反射周围的二向色性图。对RSXS信号的模型计算表明，该SRO薄膜中的二向色性图谱来自Néel型手性自旋结构。我们认为，观察到的SRO系统的自旋结构是了解其有趣的磁性和传输性质的关键信息。
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更新日期：2020-08-19
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