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使用 Cs 校正 HR-STEM/TEM 对核/壳 CdSe/ZnS 量子点 (QD) 和石墨烯 QD 进行高分辨率成像分析
Microscopy and Microanalysis ( IF 2.9 ) Pub Date : 2016-10-19 , DOI: 10.1017/s1431927613009719
H. Shin , K. Park
Microscopy and Microanalysis ( IF 2.9 ) Pub Date : 2016-10-19 , DOI: 10.1017/s1431927613009719
H. Shin , K. Park
2013 年 8 月 4 日至 8 月 8 日在美国印第安纳州印第安纳波利斯举行的 Microscopy and Microanalysis 2013 上发表的一篇论文的扩展摘要。
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更新日期：2016-10-19
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