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通过粉末冶金和铸造制成的商业纯 α-Ti 的 TEM 和 XRD 表征
Materials Letters ( IF 2.7 ) Pub Date : 2012-04-01 , DOI: 10.1016/j.matlet.2011.12.072
M. Yan , S.D. Luo , G.B. Schaffer , M. Qian
Materials Letters ( IF 2.7 ) Pub Date : 2012-04-01 , DOI: 10.1016/j.matlet.2011.12.072
M. Yan , S.D. Luo , G.B. Schaffer , M. Qian
hcp 结构的 alpha-Ti 是两种基本相（alpha-Ti 和 beta-Ti）材料之一。X 射线衍射 (XRD) 和透射电子显微镜 (TEM) 用于分析烧结态和铸态 α-Ti 材料中的 α-Ti 相。α-Ti 相的 (0001) 面的结构因子为 0。因此，当通过 x 射线衍射或电子衍射表征时，不应从 α-Ti 相的 (0001) 面发生衍射。然而，烧结态 α-Ti 材料的电子衍射记录了来自 (0001) 平面以及 (000 1) 的明确衍射，其中 l = 2n +1（n 是整数）。详细分析表明，这是由两个强相邻（bar0 上的 10 (1)）和（bar 011 上的（1））衍射平面引起的双重衍射的结果。
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更新日期：2012-04-01
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