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MEMS悬浮电感在机械冲击下的性能变化机理分析。
Micromachines ( IF 3.0 ) Pub Date : 2019-10-17 , DOI: 10.3390/mi10100686
Yiyuan Li 1 , Lixin Xu 1 , Jianhua Li 1
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由于其出色的射频性能,近几十年来,微机电系统(MEMS)悬浮电感器已经得到了广泛的研究。但是,当电感器受到机械冲击时,MEMS悬浮电感器通常会发生电感器线圈的变形和性能变化。关于MEMS悬浮电感在冲击下的性能变化,很少进行研究。本文通过理论分析与实验相结合的方法,分析了MEMS悬浮电感在机械冲击下性能变化的机理。提出了基于集总等效模型的理论分析,并进行了冲击试验。冲击测试表明,机械冲击后MEMS悬浮电感性能变化的主要原因是衬底寄生效应的变化,这是由冲击后电感悬浮高度的变化引起的。测试结果与理论分析相吻合。



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更新日期:2019-11-01
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