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通过物理方法获得的聚四氟乙烯薄膜的XPS和FTIR研究。
Polymers ( IF 4.7 ) Pub Date : 2019-10-12 , DOI: 10.3390/polym11101629
Joanna Piwowarczyk 1 , Roman Jędrzejewski 2 , Dariusz Moszyński 3 , Konrad Kwiatkowski 4 , Agata Niemczyk 1 , Jolanta Baranowska 1
Polymers ( IF 4.7 ) Pub Date : 2019-10-12 , DOI: 10.3390/polym11101629
Joanna Piwowarczyk 1 , Roman Jędrzejewski 2 , Dariusz Moszyński 3 , Konrad Kwiatkowski 4 , Agata Niemczyk 1 , Jolanta Baranowska 1
Affiliation
衰减全反射傅里叶红外光谱（ATR-FTIR）和X射线光电子能谱（XPS）这两种方法已被用于分析脉冲激光（PLD）和脉冲电子束沉积的聚四氟乙烯（PTFE）薄涂层的化学结构（PED）消融。在这些技术中，分析材料的体积明显不同，这在高度异质薄膜的表征中可能非常重要。光学显微镜，原子力显微镜（AFM）和扫描电子显微镜（SEM）已另外用于检查涂层表面形态。研究表明，在通过物理方法沉积的聚合物薄涂层的情况下，具有不同表面灵敏度的互补技术在化学结构评估中的应用，结合使用表面形貌成像技术，可以洞悉胶片的形态。结果可以提供有助于深入了解聚合物涂层沉积机理的信息。
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更新日期：2019-11-01
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