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自组织 CdSe/ZnSe 量子点的 TEM 表征
Journal of Microscopy ( IF 1.5 ) Pub Date : 1999-04-01 , DOI: 10.1046/j.1365-2818.1999.00452.x
Kirmse 1 , Schneider , Scheerschmidt , Conrad , Neumann
Journal of Microscopy ( IF 1.5 ) Pub Date : 1999-04-01 , DOI: 10.1046/j.1365-2818.1999.00452.x
Kirmse 1 , Schneider , Scheerschmidt , Conrad , Neumann
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通过各种透射电子显微镜 (TEM) 技术研究了生长在 ZnSe 上的 CdSe 量子点 (QD)，包括平面图和横截面样品的衍射对比成像、高分辨率和分析透射电子显微镜。QD 的大小范围约为 5-50 nm，从平面图成像中的对比度特征可以区分出两类。在较小点的特征中，没有可分辨的内部精细结构。较大的那些表现出四重对称的对比特征，正如金字塔状岛屿所预期的那样。基面边缘平行于 <100> 的截断 CdSe 金字塔的衍射对比度图像的相应模拟与该假设相对较好地吻合。在横截面样品的 TEM 衍射对比成像中，量子点的位置通过额外的暗对比特征可视化。与几乎均匀厚的 CdSe 润湿层相比，QD 在生长方向上具有明显更大的延伸。能量色散 X 射线光谱也证实了 CdSe QD 的存在。
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更新日期：1999-04-01
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