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线粒体膜电位与ROS形成之间的关系。
Methods in Molecular Biology Pub Date : 2018-06-01 , DOI: 10.1007/978-1-4939-7831-1_22
Jan Suski 1, 2 , Magdalena Lebiedzinska 1 , Massimo Bonora 2 , Paolo Pinton 2 , Jerzy Duszynski 1 , Mariusz R Wieckowski 1
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线粒体被认为是细胞中活性氧(ROS)的主要来源。因此,它们被认为是各种病理状况以及衰老的来源。ROS产生速率的慢性增加是DNA,蛋白质和脂质中与ROS相关的损伤积累的原因,并且可能导致进行性细胞功能障碍,并因此导致细胞凋亡,从而增加了生物体病理状况的总体可能性。超氧阴离子是线粒体氧化磷酸化的主要副产物。它的产生是由线粒体呼吸链中的电子泄漏以及这些电子与O2的反应触发的。线粒体基质中的超氧化物歧化酶(MnSOD,SOD2)以及线粒体超氧化物歧化酶(Cu / ZnSOD,线粒体内膜空间中少量存在的SOD1)将超氧阴离子转化为过氧化氢,然后可通过过氧化氢酶将其转化为无害的H2O。在本章中,我们描述了线粒体膜电位与ROS形成速率之间的关系。我们提出了适用于分离的线粒体或完整细胞的不同方法。我们还提出了表明线粒体ROS产生量的大小和方向(增加或减少)取决于该细胞器的代谢状态的实验。我们提出了适用于分离的线粒体或完整细胞的不同方法。我们还提出了表明线粒体ROS产生量的大小和方向(增加或减少)取决于该细胞器的代谢状态的实验。我们提出了适用于分离的线粒体或完整细胞的不同方法。我们还提出了表明线粒体ROS产生量的大小和方向(增加或减少)取决于该细胞器的代谢状态的实验。



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更新日期:2019-11-01
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