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SSRL的连续扫描功能及其在X射线衍射中的应用。
Journal of Synchrotron Radiation ( IF 2.4 ) Pub Date : 2016-06-14 , DOI: 10.1107/s1600577516008225
Chunlei Li 1 , Andrew M Kiss 2 , Douglas G Van Campen 2 , Alex Garachtchenko 2 , Yuriy Kolotovsky 2 , Kevin Stone 2 , Yahong Xu 3 , Wenjun Zhang 1 , Jeff Corbett 2
Journal of Synchrotron Radiation ( IF 2.4 ) Pub Date : 2016-06-14 , DOI: 10.1107/s1600577516008225
Chunlei Li 1 , Andrew M Kiss 2 , Douglas G Van Campen 2 , Alex Garachtchenko 2 , Yuriy Kolotovsky 2 , Kevin Stone 2 , Yahong Xu 3 , Wenjun Zhang 1 , Jeff Corbett 2
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典型的X射线衍射测量是通过将探测器移动到空间中的离散位置,然后在每个固定位置测量信号来进行的。这种步进扫描方法可能很耗时,并且在每个位置上使电动机加速和减速时,可能会在测量系统中引起振动。此外,除非使用精细的步进扫描,否则可能会丢失数据点之间的衍射信息,这进一步增加了总测量时间。为了有效地利用光束时间,应使电动机的加速和减速时间最小化,并应使信噪比最大。为此,斯坦福同步加速器辐射光源(SSRL)开发了一个集成的连续扫描系统。SPEC软件用于控制硬件和数据采集系统。使用ZnO粉末的X射线衍射测试了连续扫描系统的时间效率和可重复性,并与分步扫描技术进行了比较。讨论了连续扫描系统的优缺点和可变速度连续扫描的演示。
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更新日期:2016-06-14

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