英文原题:A Robust Induced Fit Docking Approach with the Combination of the Hybrid All-Atom/United-Atom/Coarse-Grained Model and Simulated Annealing
通讯作者:王斌举(厦门大学),张于微(南京师范大学)
作者:Dexin Lu, Ding Luo, Yuwei Zhang*, and Binju Wang*
图1. AA/UA/CG-SA-IFD方法的流程
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