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基于瞬态光电压测量的缺陷态抽取技术 |《科学报告》前100亮点文章

论文标题:Extraction technique of trap states based on transient photo-voltage measurement

期刊:Scientific Reports

作者:Zedong Lin

数字识别码:10.1038/s41598-020-69914-y

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实际制备的钙钛矿太阳能电池器件存在缺陷能态。缺陷态会影响载流子的复合,从而影响器件的能量转换效率。因此搞清楚器件内部的缺陷态分布显得极为重要。


瞬态光电压衰减测量是研究载流子复合的有效手段。中国人民大学林则东基于多重俘获模型,建立了缺陷态分布抽取方程。基于瞬态光电压测量数据,根据缺陷态分布抽取方程就能抽取出器件内部的缺陷态分布。


本研究还讨论了指数分布类型缺陷这一特殊情况。从缺陷态分布抽取方程出发,理论上证明了:若器件的瞬态光电压测量结果是线性的,则器件内部的缺陷态分布满足指数分布。反之,若器件内部的缺陷态分布满足指数分布,则器件的瞬态光电压测量结果是线性的。当器件的瞬态光电压测量结果是线性的,用上述证明的关系可以很容易地计算出器件的缺陷态分布。

© nature

doi: 10.1038/s41598-020-69914-y


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