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课题组在二维材料中的声子自能修正研究方向取得新进展
发布时间:2024-11-17

       近日,课题组与厦门大学王其星副教授、中山大学罗鑫教授以及天津大学-新加坡国立大学福州联合学院黄玉立副研究员、东南大学章琦副教授合作在电声耦合的研究中取得新进展,相关研究成果以“Self-energy corrections to zone-edge acoustic phonons in monolayer and bilayer WS2为题以Letter形式发表在国际期刊Physical Review B上,王其星副教授为文章第一作者,李运美副教授为共同通讯作者。


研究背景

电声耦合对理解凝聚态物理中很多重要现象至关重要,如超导、科恩反常等现象。从多体物理角度看,电声耦合可引起声子的自能修正,改变声子能量。声子自能修正的观测广泛基于金属和窄带隙半导体,并且通常只能通过拉曼谱观测到零晶格动量的声子能量修正。对于有限动量声子的观测需要能带中的多能谷之间的跃迁,并且能谷间能量差距要与声子能量可比拟。我们注意到WS2中导带的KK’Q谷能量接近,谷间能量差还依赖于层数,与声子能量可比拟,因此预期能观测到非零晶格动量声子的自能修正。

 

研究工作介绍

从二阶微扰理论可以得出,动量为q 、振动模式为$\nu$的声子自能修正可表示为

实部代表声子能量修正,虚部代表声子展宽。自能修正不为零需要两个条件:非零的电声耦合以及电子跃迁过程能产生电子-空穴对。本征的WS2带隙很大,而我们关注导带之间的跃迁,因此需要掺杂,我们利用离子液作顶栅来实现自由载流子的注入,如图1所示。K(K’)谷和Q谷之间的电子跃迁需要布里渊区边界M点声子的辅助,如图1所示,并且LA(M)声子能量与两个谷能量差接近。拉曼谱上二阶过程2LA(M)模式占主导作用,因此我们重点关注2LA(M)模式能量随顶栅电压的变化。

1.(a) 单层WS2的第一布里渊区。K谷和Q谷间的电子跃迁需要布里渊区边界的M点的声子模式参与完成匹配动量。(b) 单层WS2在电子掺杂情况下KQ能谷间电子跃迁产生电子空穴对的示意图。(c) 声子自能修正的费曼图。(d) 采用离子液作顶栅对WS2进行电子掺杂的器件结构示意图。


  首先关注单层WS2,拉曼光谱如图2(a)所示。2LA(M)模式能量随着栅压的变化如图2 (b)所示。随着栅压的增加,2LA(M)声子能量软化,半高宽增加。当Vg -Vth = 1.46 V时,声子频率减少3.22 cm-1,半高宽展增加87.5px-1[2 (c)-(d)]。声子的自能修正包含两个部分,其一是绝热修正,来自于掺杂载流子的屏蔽效应,依赖于费米面。另一部分是非绝热修正,来自于动力学跃迁过程。理论分析发现2LA(M)模式的软化主要由非绝热自能修正贡献。同时观测到的A1g(Γ)声子的自能修正来自于绝热过程。


2. (a) 单层WS2的拉曼光谱。(b) 不同栅压下单层WS2的拉曼光谱。2LA(M)A1g(Γ) 声子模拉曼位移(c)和半高宽(d)随栅压或者电子掺杂浓度的变化。


  当WS2的层数从单层增加为双层以及多层时,能带会发生从直接带隙向间接带隙的转变,Q谷导带底的能量低于K谷带底能量,掺杂时Q谷首先被填充。从Q谷到K谷的电子跃迁同样需要M点声子的参与。2LA(M) 模式拉曼位移和半高宽如图3 (b)-(d)所示。当Vg -Vth0增加至1.46 V时,2LA(M)声子拉曼波数红移了5.4 cm-1,半高宽展增加6.43 cm-1。作为对比,A1g(Γ)声子随栅压变化显著弱于单层,可以作为能带转变的证据,这是由于转变导致掺杂费米面性质的变化。

3.  (a) 双层WS2在电子掺杂时Q谷和K谷间电子跃迁产生电子空穴对的示意图。(b) 不同栅压下双层WS2的拉曼光谱。2LA(M)A1g(Γ)声子模拉曼移位(c)和半高宽(d)随栅压或者电子浓度的变化。


另外我们还讨论了MoS2/WS2异质结的情况作为辅助证明理论分析,提出了WSe2WSSe等材料也可能观测到类似的现象。


原文链接:https://journals.aps.org/prb/abstract/10.1103/PhysRevB.109.L121202