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Multi-Source Domain Generalization for Machine Remaining Useful Life Prediction via Risk Minimization-Based Test-Time Adaptation
IEEE Transactions on Industrial Informatics ( IF 11.7 ) Pub Date : 2024-10-29 , DOI: 10.1109/tii.2024.3463705 Yuru Zhang, Chun Su, Xiaoliang He, Mingjiang Xie, Zhigang Tian, Hao Liu
中文翻译：
通过基于风险最小化的测试时间自适应进行机器剩余使用寿命预测的多源域泛化
更新日期：2024-10-29
IEEE Transactions on Industrial Informatics ( IF 11.7 ) Pub Date : 2024-10-29 , DOI: 10.1109/tii.2024.3463705 Yuru Zhang, Chun Su, Xiaoliang He, Mingjiang Xie, Zhigang Tian, Hao Liu
中文翻译：
通过基于风险最小化的测试时间自适应进行机器剩余使用寿命预测的多源域泛化
京公网安备 11010802027423号