个人简介
哈尔滨工业大学研究员，入选中国科协青年人才托举工程，全国光电测量标准化技术委员会委员，中国光学学会空间光学委员会委员，中国仪器仪表学会青年委员。长期从事光学立体显微成像与计量、超分辨显微成像方向研究。发表SCI检索论文30余篇，授权中国发明专利30余项，软件著作权6项，国际PCT 3项，起草国家标准5项，参与撰写英文专著2部。主持/参与国家自然科学基金、国家重大基础设施建设项目及国家重大仪器设备开发专项等。获国家技术发明二等奖1项（序2），中国计量测试学会科技进步一等奖1项（序2），哈尔滨工业大学第一届“青年科研新星奖”。
工作经历
2021.12 至今 哈尔滨工业大学 环物院 研究员
2019.12-2021.12 哈尔滨工业大学 环物院 副研究员
2016.09-2019.12 哈尔滨工业大学 环物院 助理研究员
教育经历
2015.03-2016.04 基于微波谐振技术的石墨烯表面电导率测量 英国国家物理实验室（NPL） 学术访问
2012.09-2016.07 仪器科学与技术 哈尔滨工业大学 博士
2010.09-2012.07 光学工程 西南交通大学 硕士
2005.09-2009.07 电子科学与技术 西南交通大学 本科
研究领域
表面及亚表面缺陷一体化检测技术
大口径光学元件原位三维显微测量
芯片三维缺陷自动化检测技术
微束辐照双光子显微工作站
高折射率光波导超分辨全内反射显微成像技术
近期论文
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High-resolution dark-field confocal microscopy based on radially polarized illumination 作者 Zijie Hua, Jian Liu, Chenguang Liu* 发表时间 2022-03-18 期刊名称 Optics Express
Compact dark-field confocal microscopy based on an annular beam with orbital angular momentum 作者 Jian Liu, Zijie Hua, Chenguang Liu* 发表时间 2021-11-15 期刊名称 Optics Letters
3D dark-field confocal microscopy for subsurface defects detection 作者 Jian Liu, Jing Liu, Chenguang Liu* 发表时间 2020-02-01 期刊名称 Optics Letters
Peak extraction in fluorophore-aided scattering microscopy 作者 Chenguang Liu, Jian Liu*, Jiubin Tan 发表时间 2019.09 期刊名称 Surface Topography: Metrology and Properties
Monte Carlo based analysis of confocal peak extraction uncertainty 作者 Chenguang Liu, Yan Liu, Tingting Zheng, Jiubin Tan, Jian Liu* 发表时间 2017.09 期刊名称 Meas.Sci. Technol.
A promising solution to the limits of microscopes for smooth surfaces: fluorophore-aided scattering microscopy 作者 Liang Li, Jian Liu*, Yan Liu, Chenguang Liu*, He Zhang, Xiaoyu You, Kang Gu, Yuhang Wang, Jiubin Tan 发表时间 2018.05 期刊名称 Nanoscale
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Consistent optical characterization on nano-layers 作者 Jian Liu, He Zhang, Chenguang Liu*, Liang Li, Yujie Sun, Jiubin Tan 发表时间 2019.03 期刊名称 Surface Topography: Metrology and Properties
Accurate aberration correction in confocal microscopy based on modal sensor-less method 作者 Jian Liu, Weisong Zhao, Chenguang Liu*, Chenqi Kong, Yixuan Zhao, Xiangyan Ding, Jiubin Tan 发表时间 2019.05 期刊名称 Review of scientific instruments
Accelerated and high-quality Fourier ptychographic 作者 Jian Liu, Yong Li, Weibo Wang, Jiubin Tan, Chenguang Liu* 发表时间 2018.09 期刊名称 Optics Express
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Artifact-free penetration-adjustable elliptical mirror based TIRF microscopy 作者 Jian Liu, Chenqi Kong, Qiang Li, Weisong Zhao, Mengzhou Li, Shan Gao, Chenguang Liu*, Jiubin Tan 发表时间 2018.09 期刊名称 Optics Express
Stable and robust frequency domain position compensation strategy for Fourier ptychographic microscopy 作者 Jian Liu, Yong Li, Weibo Wang, He Zhang, Yuhang Wang, Jiubin Tan, Chenguang Liu* 发表时间 2017.11 期刊名称 Optics Express
Calibration method for depth measurement of nano-microstructure in scanning probe microscopy 作者 Jian Liu, Kang Gu, Mengzhou Li, Xiaoyu You, Chenguang Liu*, Yuhang Wang*, Jiubin Tan 发表时间 2019.07 期刊名称 计量学报
Calibration method for depth measurement of nano-microstructure in scanning probe microscopy 作者 Jian Liu, Kang Gu, Mengzhou Li, Xiaoyu You, Chenguang Liu*, Yuhang Wang*, Jiubin Tan 发表时间 2019.07 期刊名称 计量学报
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