个人简介

教育背景 2004/09-2008/07 武汉大学物理科学与技术学院物理学基地班专业，理学学士 2008/09-2014/07 中国科学院物理研究所/中国科学院大学，理学博士 2012/11-2013/10 Max Planck Institute for Solid State Research, Stuttgart Center for Electron Microscopy,德国，访问学生 工作履历 2014/09-2016/08 澳大利亚莫纳什大学(Monash University)，博士后 2016/09-2021/08 美国康奈尔大学(Cornell University)，博士后 奖励与荣誉 2016/2018年 美国显微学会博士后奖 2019年 美国显微学会《Microscopy Today》创新奖（获奖人之一） 2021年 《麻省理工科技评论》“35岁以下科技创新35人”（中国区）

研究领域

长期致力于开发新型电子显微学技术，尝试突破现有成像技术的极限和拓展其应用范围。近年来，在四维扫描透射电子显微术(4D-STEM)方面做出了一些代表性成果，包括首次突破电子显微镜物理透镜的分辨率极限，实现图像分辨率的吉尼斯世界纪录(Y. Jiang#, Z. Chen#, et al., Nature (2018) 559, 343)；成功反解多重散射，首次实现晶格热振动极限分辨率和纳米尺度三维分辨率(Z. Chen, et al., Science (2021) 372, 826)。在发展成像技术的同时，还综合利用先进的显微学方法，研究材料的微观结构和磁性拓扑畴结构。目前的研究兴趣广泛，在关注和发展新的电子显微学技术的同时，也重点研究功能材料、量子材料和磁性材料等多类材料体系的微结构及其与宏观性能的关联。

电子显微学方法 功能材料微结构 纳米尺度磁畴拓扑结构和动力学

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Z. Chen*, Y. Jiang, Y. T. Shao, M. E. Holtz, M. Odstril, M. Guizar-Sicairos, D. Schlom, D. A. Muller*. Electron ptychography achieves atomic-resolution limits set by lattice vibrations, Science, 372, 826 (2021). Z. Chen, M. Odstrcil, Y. Jiang, Y. Han, H. Chiu, L. Li, D. A. Muller*. Mixed-state electron ptychography enables sub-angstrom resolution imaging with picometer precision at low dose, Nature Communications 11, 2994 (2020). Y. Jiang#, Z. Chen#, Y. Han, P. Deb, H. Gao, S. Xie, P. Purohit, M. W. Tate, J. Park, S. M. Gruner, V. Elser, D. A. Muller*, Electron ptychography of 2D materials to deep sub-ångström resolution, Nature 559, 343-349 (2018) T. Xu#, Z. Chen#, H. Zhou, Z. Wang, Y. Dong, L. Aballe, M. Foerster, P. Gargiani, M. Valvidares, D. M. Bracher, T. Savchenko, K. Armin, S. G. Je, M. Im, D. A. Muller*, and W. Jiang*. Imaging the spin chirality of ferrimagnetic Néel skyrmions stabilized on topological antiferromagnetic Mn3Sn, Physical Review Materials 5, 084406 (2021) (Editors’ suggestion) A. M. Park#, Z. Chen#, X. Zhang, L. Zhu, R. A. Buhrman, D. A. Muller, G. D. Fuchs*. Operando control of skyrmion density in a Lorentz transmission electron microscope with current pulses, Journal of Applied Physics 128, 233902 (2020). Z. Chen, M. Weyland, X. Sang, W. Xu, J. H. Dycus, J. M. LeBeau, A. J. D’Alfonso, L. J. Allen, S. D. Findlay*, Quantitative atomic resolution elemental mapping via absolute-scale energy dispersive X-ray spectroscopy. Ultramicroscopy 168, 7-16 (2016) Z. Chen*, M. Weyland, P. Ercius, J. Ciston, C. Zheng, M. S. Fuhrer, A. J. D’Alfonso, L. J. Allen, S. D. Findlay, Practical aspects of diffractive imaging using an atomic-scale coherent electron probe. Ultramicroscopy 169, 107-121 (2016).

学术兼职

担任Science Advances, Nature Communications, Physical Review Letters/A/B/Materials, Applied Physics Letters, Microscopy and Microanalysis等杂志审稿人