雷柏平 - 中国科学院大学

个人简介

雷柏平，男，2000年毕业于武汉测绘科技大学（现武汉大学）光学仪器专业，获学士学位。从2000年至今，一直工作于中国科学院光电技术研究所，于2009年获中国科学院研究生院博士学位，现工作于中国科学院光电技术研究所薄膜相机总体室。工作期间以第一作者申请专利五项，授权两项；以第一作者发表论文六篇，SCI收录1篇，EI收录五篇。目前主要在研的项目有中国科学院预研、中国科技部专项以及中国载人航天工程有效载荷技术研究等，组成了空间结构研究团队。招生方向光学检测，光学加工，光学支撑教育背景 2004-07--2009-09 中国科学院研究生院博士学位 1996-04--2000-07 武汉测绘科技大学光电工程学院学士学位工作简历 2011-01~2015-07,中国科学院光电技术研究所, 高级工程师 2006-01~2010-12,中国科学院光电技术研究所, 助理工程师 2000-07~2005-12,中国科学院光电技术研究所, 工程师专利成果（ 1 ）一种大口径离轴非球面测量和标定系统, 发明, 2010, 第 1 作者, 专利号: 201010181989.2 （ 2 ）一种大口径高陡度光学镜面在线测量系统, 发明, 2010, 第 1 作者, 专利号: 201010244780.6 科研项目（ 1 ）太阳模拟器光学积分器组件, 主持, 院级, 2014-12--2015-12 （ 2 ）中型太阳模拟器光学组件, 主持, 院级, 2016-04--2017-12 （ 3 ）薄膜光学元件研制, 主持, 部委级, 2015-03--2019-12

研究领域

为空间薄膜光学仪器设计、精密光学测试与计量、空间姿态精密测量与控制等

近期论文

查看导师最新文章（温馨提示：请注意重名现象，建议点开原文通过作者单位确认）

（1） analysis on the system error cause by lateral departure of the light source during ronchi test, SPIE, 2012, 第 1 作者（2） analysis on the system error cause by lateral departure of the light source during ronchi test, SPIE, 2010, 第 1 作者（3） quantitative measurement of phi 630 mm F/1.34 parabolic surfaces with ronchi grating test method, col, 2009, 第 1 作者（4） application of ronchi grating to the quantitative measurement of large-aperture aspheric surfaces, 光学学报, 2009, 第 1 作者（5） QUANTITATIVE MEASUREMENT OF 140MM F/2 PARABOLIC SURFACE WITH RONCHI GRATING TEST METHOD, SPIE, 2008, 第 1 作者（6）大口径非球面Ronchi光栅测量方法, 光电工程, 2007, 第 1 作者