个人简介
赵春旺
男，1971年12月生，汉族，内蒙古和林格尔县人，博士，教授，固体力学博士生导师。现就职于上海海事大学文理学院，已指导毕业博士生3人，硕士生15人，现在读博士8人，硕士2人。
1990-1994年就读于内蒙古大学理论物理专业，获理学学士学位；
2002-2004年就读于内蒙古工业大学固体力学专业，获得工学硕士学位；
2004-2008年就读于内蒙古工业大学固体力学专业，获得工学博士学位
2．主讲课程
【1】本科生课程：大学物理等
【2】研究生课程：现代物理测试技术等
5．科研项目
A．主持的项目
【1】国家自然科学基金项目“掺稀土锗锡合金膜应变状态的精确测定及其对光电性能的影响（11672175）”，2017-2020。（进行中）
【2】国家自然科学基金项目“动态裂纹尖端变形场的多尺度原位电子显微镜研究（11272142）”，2013-2016。（已结项）
【3】国家自然科学基金项目“镍钛基轻稀土合金薄膜的组合纳米量热与微结构研究（51261017）”，2013-2016。（已结项）
【4】国家自然科学基金项目“硅锗异质结构界面纳观应变场及其对光电性能的调控（11062008）”，2011-2013。（已结项）
【5】国家自然科学基金项目“位错与微裂纹周围纳观变形场的定量高分辨电子显微分析（10862002）”，2009-2011。（已结项）
【6】教育部高等学校博士学科点专项科研基金“等原子镍钛形状记忆合金晶界和相界的纳米尺度应变场研究（20101514110002）”，2011-2013。（已结项）
【7】教育部留学回国人员科研启动基金项目“裂纹尖端变形场的原位电子显微镜研究（教外司留[2011]1568号）”，2012-2013。（已结项）
【8】内蒙古自治区自然科学基金项目“裂纹尖端变形场的原位电子显微镜研究（2010BS0106）”，2010-2012。（已结项）
B．参与的项目
【1】国家自然科学基金项目“Al2O3/Al复合材料界面残余应力研究（10562003）”，2006-2008。（已结项）
【2】国家自然科学基金项目“脆性材料纳米级微裂尖位错发射及变形实验研究（10272054）”，2003-2005。（已结项）
6．获得奖励
【1】2014年12月，纳米结构及其力学性能的电子显微学研究获内蒙古自治区自然科学一等奖（内蒙古自治区人民政府），省部级科学技术奖。
【2】2009年12月，微纳米云纹法获内蒙古自治区自然科学一等奖（内蒙古自治区人民政府），省部级科学技术奖。
近期论文
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【1】C.W. Zhao*, Y.M. Xing, C.E. Zhou, P.C. Bai,Experimental examination of displacement and strain fields in an edge dislocation core,Acta Materialia56(11):2570-2575,2008.（SCI、EI）
【2】C.W. Zhao*, S.M. Wen, Q.Y. Hou, W. Qiu, Y.M. Xing, S.J. Su, B.W. Cheng, Strain status of epitaxial Ge film on a Si (001) substrate, Journal of Physics and Chemistry of Solids 90: 87-92, 2016.（SCI、EI）
【3】C.W. Zhao*, S.L. Zhao, Y.J. Jin, X.K. Meng, Nanoscale interwoven structure of B2 and R-phase in Ni-Ti alloy film, Vacuum 129: 45-48, 2016.（SCI、EI）
【4】Q.L. Liu,C.W. Zhao*, S.J. Su, J.J. Li, Y.M. Xing, B.W. Cheng, Strain field mapping of dislocations in a Ge/Si heterostructure, PLoS One 8(4):e62672, 2013.（SCI）
【5】J.J. Li,C.W. Zhao*, Y.M. Xing, S.J. Su, B.W. Cheng, Full-field strain mapping at a Ge/Si heterostructure interface, Materials6(6):2130-2142, 2013.（SCI、EI）
【6】D.S. Liu,C.W. Zhao*, W.H. Du, Nanoscale deformation analysis near crack-tip under residual stress in Si by high-resolution transmission electron microscopy, Journal of Materials Science: Materials in Electronics 24(3):933-937, 2013.（SCI、EI）
【7】D.S. Liu,C.W. Zhao*, X.H. Hou, Nanoscale experimental study of the morphology of a micro-crack in silicon by transmission electron microscopy, Pramana-Journal of Physics80(5):903-907, 2013.（SCI、EI）
【8】C.W. Zhao*, Y.M. Xing, Quantitative analysis of nanoscale deformation fields of a crack-tip in single-crystal silicon, SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy 55(6):1088-1092, 2012.（SCI、EI）
【9】J.J. Li,C.W. Zhao*, Y.M. Xing, X.H. Hou, Z.C. Fan, Y.J. Jin, Y. Wang, In-situ SEM investigation of sub-microscale deformation fields around a crack-tip in silicon,Optics and Lasers in Engineering 50(12):1694-1698, 2012.（SCI、EI）
【10】Q.L. Liu,C.W. Zhao*, Y.M. Xing, S.J. Su, B.W. Cheng, Quantitative strain analysis of misfit dislocations in a Ge/Si heterostructure interface by geometric phase analysis, Optics and Lasers in Engineering 50(5):796-799, 2012.（SCI、EI）
【11】C.W. Zhao*, Y.M. Xing, P.C. Bai, J.J. Li, Q.L. Liu, Y.G. Du, M.H. Liu, Crack tip dislocation emission and nanoscale deformation fields in silicon, Applied Physics A: Materials Science & Processing105(1):207-210, 2011.（SCI、EI）
【12】C.W. Zhao, Y.M. Xing*,Nanoscale deformation analysis of a crack-tip in silicon by geometric phase analysis and numerical moiré method, Optics and Lasers in Engineering, 48(11):1104-1107, 2010.（SCI、EI）
【13】C.W. Zhao*, Y.M. Xing, J.Z. Yu, G.Q. Han,Quantitative strain characterization of SiGe heterostructures by high-resolution transmission electron microscopy,Physica B: Condensed Matter 405(16):3433-3435, 2010.（SCI、EI）
【14】Z.S. Dong,C.W. Zhao*,Measurement of strain fields in an edge dislocation, Physica B: Condensed Matter 405(1):171-174, 2010.（SCI、EI）
【15】C.W. Zhao*, Y.M. Xing, P.C. Bai, Experimental verification of Foreman dislocation model, Chinese Physics B18(6):2464-2468, 2009.（SCI、EI）
【16】C.W. Zhao*, Y.M. Xing, P.C. Bai, Experimental examination of displacement field in an edge dislocation core in aluminum,Physics Letters A372(3):312-315,2008.（SCI）
【17】C.W. Zhao*, Y.M. Xing, P.C. Bai,Quantitative measurement of displacement and strain by the Numerical Moiré method, Chinese Optics Letters 6(3):179-182,2008.（SCI、EI）
【18】C.W. Zhao*, Y.M. Xing, P.C. Bai,J.F. Hou, X.J. Dai, Quantitative measurement of deformation field around low-angle grain boundaries by electron microscopy,Physica B: Condensed Matter403(10-11):1838-1842, 2008.（SCI、EI）
【19】C.W. Zhao*, Y.M. Xing, Nanoscale experimental study of a micro-crack in silicon,Physica B: Condensed Matter403(23-24):4202-4204, 2008.（SCI、EI）
学术兼职
【1】全国优秀科技工作者
【2】内蒙古自治区草原英才
【3】教育部新世纪优秀人才
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